|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of high-resolution X-ray diffractornetry to the structural study of epitaxial multilayers on novel index surfaces |
| Auteur: |
Sanz-Hervás, A. Garrido, M. Aguilar, M. Sacedón, A. Sánchez-Rojas, J.L. Calleja, E. Muñoz, E. Villar, C. Abril, E.J. López, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 8-10 pagina's 777-784 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |