Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
 
 
  Gate oxide breakdown statistics in wearout tests of metal-oxide-semiconductor structures
 
 
Titel: Gate oxide breakdown statistics in wearout tests of metal-oxide-semiconductor structures
Auteur: Suñé, J.
Placencia, I.
Farrés, E.
Barniol, N.
Martin, F.
Aymerich, X.
Verschenen in: Microelectronics journal
Paginering: Jaargang 20 () nr. 6 pagina's 27-39
Jaar: 1989
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 9 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland