|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
A cross-scale investigation on transient electrothermal performance for power MOSFETs at device-package level |
| Auteur: |
Dai, Yuxuan Yao, Jiafei Chen, Jing Zhang, Maolin Xu, Yucheng Yao, Qing Qian, Qingyou Zhang, Jun Yang, Kemeng Guo, Yufeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 156 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |