|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Test power and area optimized logic built-in self-test with higher fault coverage for automobile SoCs |
| Auteur: |
Shivakumar, Vishnupriya Senthilpari, C. Yusoff, Zubaida |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 124 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |