|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on negative capacitance FinEFT beyond 7 nm node from device to circuit |
| Auteur: |
Huo, Jiali Huang, Weixing Zhang, Fan Zhang, Shengli Gan, Weizhuo Huo, Qiang Cai, Yuwei Zhang, Qingzhu Li, Yongliang Zhu, Huilong Yin, Huaxiang Wu, Zhenhua |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 116 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |