|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Total ionizing dose hardness analysis of transistors in commercial 180 nm CMOS technology |
| Auteur: |
Kumar, Mukesh Ubhi, Jagpal Singh Basra, Sanjeev Chawla, Anuj Jatana, H.S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 115 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 24 gevonden artikelen
| << vorige |