|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
A critical evaluation based on Lattice Boltzmann method of nanoscale thermal behavior inside MOSFET and SOI-MOSFET |
| Auteur: |
Zobiri, Oussama Atia, Abdelmalek Arıcı, Müslüm |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 115 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| volgende >> |