|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
Noise behavior of vertical tunnel FETs under the influence of interface trap states |
| Auteur: |
Wangkheirakpam, Vandana Devi Bhowmick, Brinda Pukhrambam, Puspa Devi |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 114 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |