|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of Si(100) surface at p-Si/SiGe/Si structure using low temperature Hall measurement analysis |
| Auteur: |
Gholizadeh Arashti, Maryam Sadeghzadeh, Mohammad Ali |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 93 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |