|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of sputtered SmCo thin films for light element contamination using RBS and HIERDA techniques |
| Auteur: |
Wang, James Y. Sood, Dinesh K. Ghantasala, Muralidhar K. Dytlewski, Nick |
| Verschenen in: |
Vacuum |
| Paginering: | Jaargang 75 (2004) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |