|
Atomic-scale investigation of Si/Al interface in multilayer aluminum sheets using HRTEM and first-principle calculation |
|
|
|
Titel: |
Atomic-scale investigation of Si/Al interface in multilayer aluminum sheets using HRTEM and first-principle calculation |
Auteur: |
Yuan, Zhipeng Chang, Jiashuo Tu, Yiyou Liu, Chen Yuan, Ting Huang, Liang Ni, Zenglei Wang, Xingxing Peng, Jin Ling, Zicheng |
Verschenen in: |
Vacuum |
Paginering: |
Jaargang 216 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2023 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|