|
Microstructural and magnetic characterization of ion-beam bombarded [Ni80Fe20-Cr]50 thin films |
|
|
|
Titel: |
Microstructural and magnetic characterization of ion-beam bombarded [Ni80Fe20-Cr]50 thin films |
Auteur: |
Zheng, Chao Lin, Ko-Wei Liu, Chi-Hsin Hsu, Hsun-Feng Leung, Chi-Wah Chen, Wei-Hsien Wu, Te-Ho Desautels, Ryan D. van Lierop, Johan Pong, Philip W.T. |
Verschenen in: |
Vacuum |
Paginering: |
Jaargang 118 (2015) nr. C pagina's 5 p. |
Jaar: |
2015 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|