|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Automated inspection of IC wafer contamination |
| Auteur: |
Aghaeizadeh Zoroofi, Reza Taketani, Hisashi Tamura, Shinichi Sato, Yoshinobu Sekiya, Kazuma |
| Verschenen in: |
Pattern recognition |
| Paginering: | Jaargang 34 (2001) nr. 6 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pattern Recognition Society |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |