|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation of substrate contact effects on heavy ion-induced current transient in SiGe HBT |
| Auteur: |
Wei, Jia-nan He, Chao-hui Li, Pei Li, Yong-hong Guo, Hong-xia |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 95 (2019) nr. C pagina's 28-35 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 12 gevonden artikelen
| << vorige |