|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Identification of oxide defects in semiconductor devices: A systematic approach linking DFT to rate equations and experimental evidence |
| Auteur: |
Goes, W. Wimmer, Y. El-Sayed, A.-M. Rzepa, G. Jech, M. Shluger, A.L. Grasser, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 87 (2018) nr. C pagina's 286-320 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |