|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
The influence of microwave pulse width on the thermal burnout effect of an LNA constructed by a GaAs PHEMT |
| Auteur: |
Yi, Shipeng Du, Zhengwei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 85 (2018) nr. C pagina's 140-147 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |