|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Combined simulation and optical measurement technique for investigation of system effects on components solder fatigue |
| Auteur: |
Dudek, R. Hildebrand, M. Rzepka, S. Fries, T. Döring, R. Seiler, B. Ortmann, R.W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 162-172 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |