|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
First principles calculations study of crystallographic orientation effects on SiC/Ti and SiC/Cr interfaces |
| Auteur: |
Li, Lei Jin, Weichao Yang, Huisheng Gao, Kewei Guo, Pengwen Pang, Xiaolu Volinsky, Alex A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 83 (2018) nr. C pagina's 119-126 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |