|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature-dependent hole transport for pentacene thin-film transistors with a SiO2 gate dielectric modified by (NH4)2S x treatment |
| Auteur: |
Lin, Yow-Jon Hung, Cheng-Chun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 81 (2018) nr. C pagina's 90-94 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |