|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling the impact of well contacts on SEE response with bias-dependent Single-Event compact model |
| Auteur: |
Ding, Lili Chen, Wei Guo, Hongxia Wang, Tan Chen, Rongmei Luo, Yinhong Zhang, Fengqi Pan, Xiaoyu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 81 (2018) nr. C pagina's 337-341 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |