|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Mechanical stress effects on electrical breakdown of freestanding GaN thin films |
| Auteur: |
Wang, Tun Wang, Baoming Haque, Aman Snure, Michael Heller, Eric Glavin, Nicholas |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 81 (2018) nr. C pagina's 181-185 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |