|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Integrated modeling of Self-heating of confined geometry (FinFET, NWFET, and NSHFET) transistors and its implications for the reliability of sub-20nm modern integrated circuits |
| Auteur: |
Ahn, W. Shin, S.H. Jiang, C. Jiang, H. Wahab, M.A. Alam, M.A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 81 (2018) nr. C pagina's 262-273 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |