|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
An exploration for the degradation behavior of 2-D electrostatic microscanners by accelerated lifetime test |
| Auteur: |
Qiao, Dayong Zhao, Rong Zhang, Yalong Xia, Changfeng Song, Xiumin You, Qiaoming |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 80 (2018) nr. C pagina's 284-293 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |