|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 66 van 66 gevonden artikelen
| Titel: |
Validation methodology to analyze the temperature-dependent heat path of a 4-chip LED module using a finite volume simulation |
| Auteur: |
Mitterhuber, Lisa Defregger, Stefan Hammer, René Magnien, Julien Schrank, Franz Hörth, Stefan Hutter, Matthias Kraker, Elke |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 79 (2017) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 66 van 66 gevonden artikelen
| << vorige |