|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Model of phonon contribution to nonionizing energy loss (NIEL) for InP/InGaAs heterojunction |
| Auteur: |
Zhao, Xiao-Hong Lu, Hong-Liang Zhang, Yu-Ming Zhang, Yi-Men |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 78 (2017) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |