|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
An enhanced MOSFET threshold voltage model for the 6–300K temperature range |
| Auteur: |
Dao, Nguyen Cong Kass, Abdallah El Azghadi, Mostafa Rahimi Jin, Craig T. Scott, Jonathan Leong, Philip H.W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 69 (2017) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |