|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
An alternative approach to measure alpha-particle-induced SEU cross-section for flip-chip packaged SRAM devices: High energy alpha backside irradiation |
| Auteur: |
Khan, Saqib Ali Lim, Chulseung Bak, Geunyong Baeg, Sanghyeon Lee, Soonyoung |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 69 (2017) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |