|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray inspection of TSV defects with self-organizing map network and Otsu algorithm |
| Auteur: |
Shen, Junjie Chen, Pengfei Su, Lei Shi, Tielin Tang, Zirong Liao, Guanglan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 67 (2016) nr. C pagina's 129-134 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 24 gevonden artikelen
| << vorige |