|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of fin number on hot-carrier injection stress induced degradation in bulk FinFETs |
| Auteur: |
Zhang, Wenqi Wang, Tzuo-Li Huang, Yan-Hua Cheng, Tsu-Ting Chen, Shih-Yao Li, Yi-Ying Hsu, Chun-Hsiang Lai, Chih-Jui Yeh, Wen-Kuan Yang, Yi-Lin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 67 (2016) nr. C pagina's 89-93 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |