Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 82 van 136 gevonden artikelen
 
 
  Investigation of temperature variations on analog/RF and linearity performance of stacked gate GEWE-SiNW MOSFET for improved device reliability
 
 
Titel: Investigation of temperature variations on analog/RF and linearity performance of stacked gate GEWE-SiNW MOSFET for improved device reliability
Auteur: Gupta, N.
Chaujar, R.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 7 p.
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 82 van 136 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland