|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation of gate leakage and local strain distribution in GaN/AlGaN HEMT structures |
| Auteur: |
Broas, M. Graff, A. Simon-Najasek, M. Poppitz, D. Altmann, F. Jung, H. Blanck, H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |