|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Wafer level measurements and numerical analysis of self-heating phenomena in nano-scale SOI MOSFETs |
| Auteur: |
Garegnani, Giacomo Fiori, Vincent Gouget, Gilles Monsieur, Frederic Tavernier, Clement |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 63 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 46 gevonden artikelen
| << vorige |