Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 28 van 46 gevonden artikelen
 
 
  Modeling and analysis of crosstalk induced overshoot/undershoot effects in multilayer graphene nanoribbon interconnects and its impact on gate oxide reliability
 
 
Titel: Modeling and analysis of crosstalk induced overshoot/undershoot effects in multilayer graphene nanoribbon interconnects and its impact on gate oxide reliability
Auteur: Sahoo, M.
Rahaman, H.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 63 (2016) nr. C pagina's 8 p.
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 28 van 46 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland