|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
The ESD protection characteristic and low-frequency noise analysis of GaN Schottky barrier diode with fluorine-based plasma treatment |
| Auteur: |
Chiu, Hsien-Chin Chi, Ji-Fan Kao, Hsuan-Ling Chu, Chia-Yi Cho, Kuan-Liang Chien, Feng-Tso |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 59 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |