|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of via density and low-k Young's modulus influence on mechanical performance of advanced node multi-level Back-End-Of-Line |
| Auteur: |
Ključar, Luka González, Mario De Wolf, Ingrid Croes, Kristof Bömmels, Jürgen Tőkei, Zsolt |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |