|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature dependence of the electrical characteristics up to 370K of amorphous In-Ga-ZnO thin film transistors |
| Auteur: |
Estrada, M. Rivas, M. Garduño, I. Avila-Herrera, F. Cerdeira, A. Pavanello, M. Mejia, I. Quevedo-Lopez, M.A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |