|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on fatigue life and electrical property of COG assembly under thermal–electric–mechanical coupled loads |
| Auteur: |
Gao, Hong Zhang, Wenguo Zhang, Zhe Gao, Lilan Chen, Gang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |