Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 28 van 32 gevonden artikelen
 
 
  Study on fatigue life and electrical property of COG assembly under thermal–electric–mechanical coupled loads
 
 
Titel: Study on fatigue life and electrical property of COG assembly under thermal–electric–mechanical coupled loads
Auteur: Gao, Hong
Zhang, Wenguo
Zhang, Zhe
Gao, Lilan
Chen, Gang
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 56 (2016) nr. C pagina's 7 p.
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 28 van 32 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland