|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of energy and spatial distribution of oxide border traps in In0.53Ga0.47As MOS capacitors from capacitance–voltage characteristics measured at various temperatures |
| Auteur: |
Dou, Chunmeng Lin, Dennis Vais, Abhitosh Ivanov, Tsvetan Chen, Han-Ping Martens, Koen Kakushima, Kuniyuki Iwai, Hiroshi Taur, Yuan Thean, Aaron Groeseneken, Guido |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 4 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |