|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of interface state density of three-dimensional Si nanostructure by charge pumping measurement |
| Auteur: |
Dou, Chunmeng Shoji, Tomoya Nakajima, Kazuhiro Kakushima, Kuniyuki Ahmet, Parhat Kataoka, Yoshinori Nishiyama, Akira Sugii, Nobuyuki Wakabayashi, Hitoshi Tsutsui, Kazuo Natori, Kenji Iwai, Hiroshi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |