|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
High temperature induced failure in Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructure |
| Auteur: |
Dong, Zhihua Wang, Jinyan Wen, C.P. Liu, Shenghou Gong, Rumin Yu, Min Hao, Yilong Xu, Fujun Shen, Bo Wang, Yangyuan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |