|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on the abnormal resistive switching induced by ultraviolet light exposure based on HfOx film |
| Auteur: |
Chang, Kow-Ming Tzeng, Wen-Hsien Liu, Kou-Chen Chan, Yi-Chun Kuo, Chun-Chih |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |