|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the shift of hot spot in lateral diffused LDMOS under ESD conditions |
| Auteur: |
Qian, Qinsong Sun, Weifeng Zhu, Jing Shi, Longxing |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |