|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability assessment of 1.55-μm vertical cavity surface emitting lasers with tunnel junction using high-temperature aging tests |
| Auteur: |
Rhew, Keun Ho Jeon, Su Chang Lee, Dae Hee Yoo, Byueng-Su Yun, Ilgu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 49 (2009) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |