|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
A unification of interface-state generation and hole-injection for hot-carrier-injection stress in low and high-voltage NMOSFET |
| Auteur: |
Dai, M.Z. Kim, S.I. Yap, Andrew Liu, Shaohua Cheng, Arthur Yi, Leeward |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |