|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
A study of the linearity between I on and log I off of modern MOS transistors and its application to stress engineering |
| Auteur: |
Lau, W.S. Yang, Peizhen Eng, C.W. Ho, V. Loh, C.H. Siah, S.Y. Vigar, D. Chan, L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| volgende >> |