Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Effect of process-induced voids on isothermal fatigue resistance of CSP lead-free solder joints
 
 
Titel: Effect of process-induced voids on isothermal fatigue resistance of CSP lead-free solder joints
Auteur: Yu, Qiang
Shibutani, Tadahiro
Kim, Do-Seop
Kobayashi, Yusuke
Yang, Jidong
Shiratori, Masaki
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 48 (2008) nr. 3 pagina's 7 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland