|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation dynamics, recovery, and characterization of negative bias temperature instability |
| Auteur: |
Ershov, M. Saxena, S. Minehane, S. Clifton, P. Redford, M. Lindley, R. Karbasi, H. Graves, S. Winters, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |