|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of electrical stress on mid-gap interface trap density and capture cross sections in n-MOSFETs characterized by pulsed interface probing measurements |
| Auteur: |
Kwon, Hyuck In Man Kang, In Park, Byung-Gook Duk Lee, Jong Sik Park, Sang Chak Ahn, Jung Hee Lee, Yong |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |