|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Hole injection enhanced hot-carrier degradation in PMOSFETs used for systems on chip applications with 6.5–2 nm thick gate-oxides |
| Auteur: |
Bravaix, A. Goguenheim, D. Revil, N. Vincent, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 1 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |