Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 16 gevonden artikelen
 
 
  Reliable study of digital IC circuits with margin voltage among variable DC power supply, electromagnetic interference and conducting wire antenna
 
 
Titel: Reliable study of digital IC circuits with margin voltage among variable DC power supply, electromagnetic interference and conducting wire antenna
Auteur: Tsai, Han-Chang
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 43 (2003) nr. 12 pagina's 9 p.
Jaar: 2003
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland